Juillet 2010
Triple récompense en France et aux USA !
Gamme ProCeas (technologie OF-CEAS - UJF )
- Trophée dans la catégorie ANALYSE INDUSTRIELLE décernés par la revue MESURES.
- Trophée R&D100 pour 2010, un prix décerné par la revue R&D (Article ici) Magazine en reconnaissance de ce qu’ils considèrent sont les 100 innovations technologiques les plus importantes de l’année dans le monde (R& Magazine distribue chaque mois 80,000 copies de son magazine dans 60 pays)
- Second prix pour excellence technologique et scientifique pour l’ensemble de la conférence annuelle de l'AD-ISA (Analysis Division - Instrumentation Systems and Automation society) en Avril dernier à la Nouvelle Orléans (Louisiane ; USA). Cette présentation a été automatiquement invitée pour une seconde présentation à la conférence annuelle de l’ensemble de l’ISA (toutes divisions confondues) le 4 Octobre prochain à Houston.
Juin 2010
Analyse de traces de gaz par technologie OF-CEAS.
Salon Forum Labo & Biotech :
ap2e sera présente au salon Forum Labo & Biotech (www.forumlabo.com) qui se tiendra du 1èr au 4 Juin 2010 - Porte de Versailles - Pavillon 4 - Paris.
Seront présentés nos deux gammes d'analyseurs à base de spectrométrie laser : notre multi gaz, le LaserCEM, destiné à la mesure des émissions gazeuses et le ProCeas destiné à l'analyse de gaz en process.
Dans le cadre des Ateliers Exposants, une conférence sera donnée, le Vendredi 4 Juin à 10h00 sur le thème: "Echantillonnage basse pression, laser haute définition : Une alternative à l'analyse de gaz par Chromatographie Gazeuse"
Janvier 2010
LaserCem: 1èr multigaz par spectrométrie laser pour la mesure des CEM.
Salon Analyse Industrielle - CNIT / Paris :
ap2e sera présent au salon de l'Analyse Industrielle du 2 au 4 Février prochain, au CNT La Défense (www.analyse-expo.com).
A cette occasion, nous présentons en avant première notre appareil, le laserCEM©, le premier analyseur de CEM par spectrométrie laser disponible aujourd'hui sur le marché, ainsi que nos autres produits dont la mesure de traces en process.
Une conférence aura lieu le mercredi 3 Février, à 11h00 dans l'espace « Atelier Exposant » sur le thème: "Un échantillonnage basse pression, un multilaser Haute Definition, une évolution attendue dans la mesure des CEM - Deux innovations au service d'une application".
24O, rue de Broglie - Les Méridiens - Bât A - 1329O Aix-en-Provence
Tel : +33 (O)4 42 61 29 4O - Fax : +33 (O)4 42 59 32 49